SKP – M470

SKP – M470

Technique de la sonde Kelvin à balayage (SKP)

UGS : SKP470 Catégorie: Marque :

Description

SKP – M470.

Cette technique utilise une sonde capacitive vibrante de conception connue pour mesurer la différence de fonction de travail avec l'échantillon étudié.

Cartographier les variations locales du travail de sortie à la surface d'un échantillon

La technique de la sonde Kelvin à balayage (SKP) utilise une sonde capacitive vibrante de conception connue pour mesurer la différence de potentiel de sortie de l'échantillon. En déplaçant la sonde dans le plan x,y, il est possible de cartographier les variations locales du potentiel de sortie à la surface de l'échantillon. Cette différence de potentiel de sortie est liée à une caractéristique de l'état de surface, notamment le potentiel de corrosion. Avec le même dispositif, il est également possible de réaliser deux types de mesures topographiques : la mesure de hauteur capacitive (CHM) et la mesure de suivi capacitif (CTM). La CHM et la CTM peuvent être utilisées seules ou comme données d'entrée pour une mesure de suivi de hauteur.

La technique SKP est largement utilisée dans la recherche sur la corrosion et les revêtements. Elle est particulièrement utile pour étudier l'amorçage de la corrosion sous un revêtement de surface. Dans le domaine du photovoltaïque, l'utilisation de la technique SKP s'est accrue pour déterminer le travail de sortie de différents composants. Elle a également été employée pour détecter la contamination de surface des composants. En biotechnologie, la technique SKP a été proposée pour mesurer le potentiel électrique des tissus vivants et a même trouvé des applications en criminalistique.

 

Mesure SKP à distance constante d'une pièce de 2 € effectuée en mode de suivi de hauteur à l'aide des mesures topographiques du MTC.

 

Aperçu : Mesures de la fonction de travail locale sans contact et non destructives

  • Non destructif
  • Peut être utilisé même en présence d'un revêtement isolant.

Mesurez votre échantillon sans exposition à l'électrolyte.

L'exposition prolongée d'un échantillon à l'électrolyte peut l'endommager. Si l'échantillon est susceptible de se corroder au contact de l'électrolyte, son état pourrait différer entre le début et la fin de l'expérience. Contrairement à d'autres mesures par sonde à balayage, la technique SKP est réalisée sans électrolyte, tout en fournissant des informations électrochimiques sur l'échantillon. Technique sans contact et sans électrolyte, la SKP est une mesure véritablement non destructive.

La fonction d'auto-réglage permet une mise en place expérimentale plus rapide

Dans la technique SKP, la sonde vibre perpendiculairement à l'échantillon pour générer un courant alternatif sinusoïdal. Ce courant est ensuite converti en courant continu par l'amplificateur de détection synchrone (LIA) grâce à un signal de démodulation. Pour un signal continu maximal, ce signal doit être en phase. Le choix de la phase de démodulation peut s'avérer complexe pour un utilisateur novice. Le SKP470 simplifie cette étape grâce à sa fonction d'auto-réglage, ce qui accélère et facilite la mise en place de l'expérience. De plus, la phase optimale pour un signal continu maximal est toujours garantie.

Effectuer des mesures à hauteur constante et à distance constante

Le SKP470 permet aux chercheurs d'effectuer des mesures SKP en modes hauteur constante et distance constante. Le mode hauteur constante offre les mesures SKP les plus rapides, car la position z de la sonde reste inchangée pendant le balayage. Cependant, la distance sonde-échantillon influe sur la qualité et l'intensité du signal SKP ; il est donc avantageux de maintenir la sonde près de la surface de l'échantillon tout au long du balayage. Dans ce cas, les mesures à distance constante par suivi de hauteur, où la position z de la sonde varie, constituent le meilleur choix.

Choisissez parmi deux techniques de topographie SKP différentes

Le SKP470 offre deux options pour la mesure de la topographie. Les chercheurs peuvent ainsi effectuer un balayage topographique, suivi d'une mesure SKP à distance constante, sans changer de sonde ni procéder à un nouvel alignement. Les deux mesures topographiques disponibles sont la mesure de hauteur capacitive (CHM) et la mesure de suivi capacitif (CTM). En CHM, la sonde conserve une hauteur constante et seule la variation de distance entre la sonde et l'échantillon est mesurée. Cette méthode est adaptée aux échantillons relativement plats, nécessitant une mesure topographique rapide. En CTM, la hauteur de la sonde varie tout au long de la mesure afin de maintenir une distance sonde-échantillon constante. Cette méthode est particulièrement adaptée aux échantillons très rugueux ou présentant d'importantes variations de topographie.