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Affichage de 37–72 sur 111 résultatsTrié par popularité
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MARC 7000
Système de recherche à large gamme spectrale pour laboratoire
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AS 5000
Échantillonneur d'aérosols et d'iode
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AS 3000
ÉCHANTILLONNEUR D'AÉROSOL ET D'IODE
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H3R 7000 – Condenseur au tritium
Condenseur de tritium – Piégeage avancé du tritium atmosphérique sous forme de vapeur
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LA HAYE 7000
Spectromètre analytique à large gamme de fréquences
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EDP 7000
Équipement d'électrodéposition – Monostation
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EDP 9000
ÉQUIPEMENT D'ÉLECTRODÉPOSITION À DOUBLE MÂT
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SP-150e PStat/Gstat
Jusqu'à 2 canaux, ±1 A, EIS (opt.) ; extensible jusqu'à ±800 A,
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SP-300 Pstat/Gstat
Jusqu'à 2 canaux, ±0,5 A, EIS (opt.) ; extensible jusqu'à ±120 A,
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Spectropolarimètre MOS-500
spectromètre de dichroïsme circulaire
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iDus 416 CCD
Matrice de 2000 x 256 pixels ; pixels de 15 µm, pour la spectroscopie NIR.
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CCD intensifié iStar 334T
Pixels actifs : 1024 × 1024 pixels – Taille des pixels : 13 µm
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Cellule sCMOS ZL41
4,2 ou 5,5 mégapixels, taille des pixels de 6,5 µm
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iXon Ultra 897 EMCCD
Pixels actifs : 512 × 512, taille des pixels : 16 µm
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Spectrographe Shamrock 500i
Distance focale de 500 mm, résolution jusqu'à 0,03 nm
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iKon-L HF
Capteur CCD à fibre optique à détection indirecte de grande surface
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Kit de cellules de corrosion
Source lumineuse à fonctionnement cryogénique pour spectroscopie
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Zyla-HF sCMOS
Capteur sCMOS 5,5 mégapixels – Détection haute énergie à 100 images/s
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VANTAGE 2
Profilomètre et interféromètre 3D compact
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AVANTAGE 1
Profilomètre 2D compact
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CT 150
Compact Metrology System
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CT 300
Versatile Metrology Systems
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CT 350
Versatile Metrology System
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CT 350T / CT 250T
Double Sided Metrology System
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CT 600S
Leading accuracy on large scale
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AM 3000
Instrument de laboratoire avancé SDEC France pour la recherche
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Spectrographe Kymera 193i
Focale de 193 mm, technologie de mise au point adaptative
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Accessoires pour flux arrêté
Une conception unique pour les applications de mélange simple, double et triple
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AC/DC-SECM – M470
Courant continu (CC) - SECM et courant alternatif (CA) - SECM
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ic-SECM – M470
Mesure l'activité de surface et cartographie la topographie de surface
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LEIS – M470
Mesure l'impédance électrochimique avec une résolution spatiale
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AC/DC-SDS – M470
La cellule à gouttelettes est traitée exactement comme une cellule électrochimique classique.
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SKP – M470
Technique de la sonde Kelvin à balayage (SKP)
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OSP – M470
Module de profilage de surface optique pour M470
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SVET – M470
Mesures par la technique de l'électrode vibrante à balayage
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M470 – Scanning Echem
Allowing users to exploit 9 local electrochemistry techniques.
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