Description
Technique ic-SECM pour M470
Microscopie électrochimique à balayage par contact intermittent
SECM avec la capacité de distinguer la réponse induite topographique et électrochimique
La variante de microscopie électrochimique à balayage par contact intermittent du système modulaire de BioLogic M470 Station de travail électrochimique à balayage. Il s'agit d'une technique exclusive à BioLogic.
La microscopie électrochimique à balayage par contact intermittent (ic-SECM) est une méthode de microscopie électrochimique à balayage (SECM) à distance constante. Grâce à l'ic-SECM, il est possible de mesurer l'activité de surface et d'établir des cartes topographiques de surface. Cette expérience unique permet de corréler les caractéristiques et l'activité de l'échantillon.
La technique ic-SECM est uniquement disponible sur la station de travail électrochimique à balayage M470 de BioLogic (sous licence exclusive du groupe Unwin). Université de Warwick).
L'utilisation de la microscopie électrochimique à balayage (SECM) à haute résolution permet de maintenir une distance constante entre la sonde et l'échantillon sur de grandes surfaces, même sur des échantillons très rugueux. Elle a été employée pour mesurer des échantillons extrêmement plats afin de s'affranchir de l'inclinaison et garantir ainsi un signal optimal tout au long de la mesure. La SECM à haute résolution est utilisée dans la recherche sur les batteries, notamment pour la mesure des électrolytes solides. Elle peut également servir dans l'étude de la corrosion, en particulier lorsque l'échantillon est trop rugueux pour être analysé par les techniques SECM à hauteur constante.
Aperçu : Un système puissant, polyvalent et facile à utiliser
- Mesurer simultanément l'activité de surface et la topographie
- Utilisation d'un bouton-poussoir pour détecter automatiquement la surface de l'échantillon
- L'inclinaison de l'échantillon n'est plus un problème.
- Disponible pour les modèles dc-SECM et ac-SECM
- Des signaux plus forts
Mesure SECM à distance constante unique avec sorties d'activité et de topographie
La microscopie électrochimique à balayage (SECM) à hauteur constante est la méthode la plus courante. Cependant, comme l'activité de l'échantillon et la distance sonde-échantillon influencent le signal SECM, il peut être difficile de déterminer si le signal mesuré provient de l'activité ou de la topographie. Ceci peut limiter les types et les tailles d'échantillons adaptés à la SECM à hauteur constante. En revanche, avec la SECM à intensité variable (ic-SECM), la topographie est suivie tout au long de la mesure, ce qui permet d'affirmer avec certitude que le signal mesuré est dû à l'activité de l'échantillon. L'ic-SECM permet ainsi d'utiliser des échantillons auparavant inaccessibles à la SECM traditionnelle. L'ic-SECM ouvre la voie à la mesure de surfaces beaucoup plus grandes qu'avec les méthodes traditionnelles, car l'inclinaison de l'échantillon est prise en compte, évitant ainsi la dégradation du signal. De plus, la topographie étant mesurée séparément, une corrélation entre la topographie et l'activité est possible.
Aucune courbe d'approche requise
En ic-SECM, l'utilisateur peut procéder par simple pression d'un bouton pour localiser automatiquement la surface de l'échantillon. Cette méthode repose sur le mécanisme de commande mécanique utilisé dans tout le système. Ainsi, l'ic-SECM peut être utilisé même dans des situations où une approche classique s'avérerait complexe, même pour des utilisateurs expérimentés, par exemple lorsque le produit de corrosion de la surface est le médiateur redox d'intérêt.
La topographie et l'inclinaison ne sont plus un problème.
L'utilité de la microscopie électrochimique à balayage (SECM) à hauteur constante est limitée si l'échantillon présente d'importantes variations topographiques et/ou une forte inclinaison du fond. Dans ces cas, la difficulté à distinguer l'effet de l'activité de l'échantillon de celui de la topographie est mineure comparée à l'ampleur des variations topographiques, qui ne permettent de mesurer qu'un signal global dans certaines régions. Ceci peut considérablement restreindre les types et les tailles d'échantillons adaptés à la SECM à hauteur constante. En revanche, la technique ic-SECM permet d'analyser des échantillons auparavant inaccessibles à la SECM traditionnelle. L'ic-SECM ouvre la voie à la mesure de surfaces beaucoup plus vastes qu'avec les méthodes classiques, car elle suit l'inclinaison de l'échantillon, évitant ainsi la dégradation du signal. En permettant à la sonde de s'approcher plus près qu'avec la mesure à hauteur constante, l'ic-SECM présente l'avantage supplémentaire d'obtenir un signal plus intense.
